超高速ATE测试设备

前沿存储性能验证

全面覆盖 LPDDR6/7、PAM3/PAM4 及 GDDR6X/GDDR7 等最新协议，为未来高速存储芯片提供准入测试能力。

业界领先的信号速率、测试精度与抖动容限搭载高性能测试硬件，确保在超高数据速率下的高精度测量与严格的抖动容忍度测试。

极限工况下的性能与可靠性验证

通过严苛的压力测试与边际条件分析，系统验证芯片在高速运行环境中的稳定性与长期可靠性。

纯国产自研机台

实现硬件到软件的全链路自主可控，保障测试技术的独立性与供应链安全性，满足国产化替代需求。