ATE测试设备
CP/FT ATE 测试设备
TA8600 系列测试平台基于“单一可扩展”架构与高度模块化设计，实现一机多能与灵活配置。系列涵盖 TA8600 BIST、TA8600 CP、TA8600 FT 等型号，支持 NAND、DRAM 及 HBM 的晶圆级测试。平台支持 DRAM Core 测试及部分 FT 功能验证（最高支持 LPDDR5 6400 Mbps 以下速率），同时也是面向 NAND 高速 FT 测试的高性能解决方案。通过模块化扩展，满足多阶段、多场景测试需求，提供一站式测试支持。
TA8600 BIST
超高并行（≥1280 Die）：深度定制硬件匹配客户 BIST 引擎，实现全速高覆盖测试。
底层可靠：首道电性关卡，确保单元功能正常。
TA8600 CP
高效并测：资源共享架构提升并行效率，专为 WLBI 长时间监控优化。
增强电源能力：资源数量多，支持更多 HBM / HBF 器件 WLBI 与 CP 同测，优化测试成本。
TA8600 FT
支持速度 License 选配：覆盖 NAND 高速测试及部分 DRAM 速度档位功能验证（如 LPDDR5 6400 Mbps速度下的测试）。
全面可靠：执行量产阶段标准可靠性测试，确保产品出厂质量。
专项深度优化：针对 NAND（如ONFi、Toggle 协议）及 LPDDR4/5 接口深度优化，在成本、速度与覆盖率之间实现最佳平衡。