SLT测试设备
ICT测试设备
TL4800 是一款面向 eMMC、UFS 等嵌入式存储器的开卡与分级系统，适用于新产品固件烧录及老化流程。该设备支持老化后性能分级与颗粒筛选，并可通过更换对应 KIT 适配不同封装形式的器件。具备高并行同测能力，显著提升单位产出（UPF），助力客户实现高效、灵活的生产与分选管理。
高效并行测试
支持高达 128 DUT 并行测试，显著提升量产效率。
广泛兼容性
全面适配 eMMC、UFS 及 eMCP、uMCP、ePOP 等多种封装形式的嵌入式存储器。
一体化功能集成
集固件烧录、漏电流检测、坏块判定及性能分级（Bin）等核心功能于一体。
数据可追溯管理
支持与 MES 系统对接，实现测试数据全流程同步与精准追溯。