SLT测试设备
Sorting/开卡分选测试设备
TL3700 是一款高效、灵活的开卡分选测试设备，支持快速更换 Load Board，适配不同封装类型的存储颗粒，支持快速筛选、容量分级、坏块检测、ID 校验及固件烧录等功能，实现多项测试流程一体化。具备高并发测试能力与高 UPH 表现，测试数据可追溯管理，显著降低测试成本并提升生产效率。
多封装兼容能力
系统支持 BGA NAND、eMMC、UFS、ePoP、uMCP 等多种封装形式，满足不同存储产品的测试需求。
高并发高UPH
支持高达 128 DUT 并行测试，空跑 UPH 可达 5600，有效提升产线吞吐率，降低单位测试成本。
完善的测试功能体系
集成自动固件烧录、坏块筛选、ID 校验、容量分 Bin 等核心功能；支持自定义测试项、颗粒厚度自适应调节、结果查询与报表导出，并实现与 MES 系统对接，保障数据可追溯。
全流程自动化控制
内置自动扫码模块，可自动匹配 MES 工单并加载测试程序，减少人工干预，提升测试一致性与准确性。