P-ATE参数自动化测试设备

高效 DC 测试能力

支持全 Pin 脚 Open / Short / Leakage 等 DC 参数测试，单 Pin 测试时间达毫秒级，实现高 UPH。

灵活适配能力

支持 Load Board 快速更换，兼容不同封装与规格的 NAND / eMMC / UFS 器件，提升设备利用率。

NAND Read ID 支持

支持 NAND Read ID 功能。

生产追溯管理

支持 MES 对接，实现测试数据全程追溯，并自动生成良率及不良分析报告。

可视化监控

提供实时数据与状态监控界面，便于快速定位问题与优化流程。

增强身份校验（可选）

可选 CHECK ID 功能，强化芯片身份识别与筛选能力。