BI老化测试设备

多类型存储器件覆盖

支持 UFS、NAND、eMMC、BGA SSD、eMCP、ePoP、DDR 等存储芯片的老化测试。

高并行架构设计

支持 132 / 182 / 224 DUT 等多种 BIB 配置，实现多器件并行老化，大幅提升测试效率。

精确电源控制与保护机制

具备功耗监测、过压保护及电压拉偏功能，确保芯片在受控条件下运行，提高测试准确性。

大功率器件适配能力

专为高功耗芯片老化测试设计，满足大功率应用需求。

自动结果采集与良率分析

自动获取测试数据并进行良率分析，优化生产流程。

系统集成与数据追溯

支持与 MES 及 IO 系统对接，实现测试数据同步、日志读取及全流程可追溯管理。