TB7300
存储低速老化测试设备
TB7300 是一款基于 ATE 架构的通用型存储器老化测试系统。采用业界先进的 ALPG 驱动板架构，并配备定制化高性能老化温箱，在高密度、高功率条件下仍能保证优异的温度均匀性。多 SITE 架构支持多槽位并行测试，显著提升测试效率，满足大规模量产需求。TB7300 提供多样化软硬件配置，可根据不同产品灵活配置机型，支持工程研发、量产、高并测高功率产品、全自动移门、自动BIB插拔等功能，全面提升测试效率与自动化水平。
高功率供电能力
支持可扩展 DPS 架构，采用 380-PIN BIB 接口。可选高配方案，实现接口电源与信号能力倍增，满足高功率、高密度测试需求。
高密度多槽位测试
整机最多支持 48 个插槽，支持 BIB 自动插拔，提升并行测试效率与自动化水平。
高热负载能力
配备双温区老化温箱，单区功率最高 7 kW，确保高功率、高并测条件下温度稳定可控。
灵活 BIB 接口设计
可选兼容友商 BIB 接口，单板最高支持 256 DUT 同测，提升并行覆盖能力。
快速产品切换
通过更换 BIB 实现产品快速切换，减少停机时间，提高系统灵活性。