TB7500
DRAM测试设备
TB7500 是专为 DRAM 设计的高效老化测试系统，支持 DDR 器件修复应用。基于业界标准 ATE 架构，兼容性强，支持自动滑门与 BIB 插拔系统，助力智能化、无人化生产。系统通过更换不同类型的 BIB，支持多种 DDR/LPDDR 器件及封装形式，满足多样化测试需求。提供工程机、量产整机及宽温机型（支持车规器件）等配置，并兼容友商 BIB，保护现有投资，确保系统灵活性与可扩展性。
高功率供电能力
支持最多 48 个插槽，单 BIB 最高 384 DUT，同系统最高 18,432 DUT，提升并行测试能力。
高能效
精细化功耗管理，优化系统能效，降低生产与运营成本。
高效修复能力
具备高性能运算与通信架构，支持 DDR 制造过程中的快速修复流程。
软件与程序支持
提供本地化应用开发与技术服务，降低综合运维成本。
高温度均匀性
采用定制化老化温箱，在高热负载条件下保持稳定温度均匀性。
高速信号支持
接口信号速率最高支持 200 MHz / 400 Mbps，保障数据传输稳定性与准确性。
多通道测试资源
单槽配置 768 通道 DR&IO 信号及 300A+ 供电能力，满足高并发、高功率测试需求。