TL2900
SLT系统级测试设备
TL2900 SLT 是一款专为DDR应用场景设计的高性能测试平台，可模拟从上电初始化到系统启动的完整运行流程。系统通过精准的训练扫描与眼图分析，快速定位 DDR 兼容性问题，保障内存稳定性。基于先进算法，对 LPDDR 内部存储单元进行全面遍历测试，验证读写功能并筛选高品质 DDR 颗粒。平台适用于质量检测与性能验证，助力提升整机系统的稳定性与可靠性。
高并发低成本
支持最高 512 DUT 并行测试，理论 UPD 可达 30K+，显著提升产出效率并降低单位测试成本。
丰富 Pattern 库与自研算法
内置全面 Pattern 库，结合自研测试算法，对 DDR 常见失效模型（如 SAT、TF、CF、NPSF 等）实现高覆盖率检测，提升缺陷检出能力。
高频率测试，全面覆盖
基于真实应用平台，支持多系统工作场景下的高频运行测试，全面评估 DDR 在不同环境中的稳定性与性能表现。
灵活调试，严苛测试
支持电压、时序参数灵活调节，实现严苛测试，确保产品质量满足高标准要求。
开放接口与定制能力
提供底层接口，支持客户自定义测试 Pattern 与算法配置，提升测试灵活性与精准度。