TS1932 PCIe Gen5 SSD测试设备

高性能并行测试

支持 PCIe 5.0（32GT/s），向下兼容，最大支持 256 DUT 同测，满足高并行测试需求。

多接口规格兼容

兼容 U.2、M.2、EDSFF 等主流接口规格，适配不同形态 SSD 产品。

独立供电与精密监测

每个 DUT 独立供电，支持电压拉偏测试，实时监测电压与电流参数，保障测试精度。

灵活接口与调试能力

支持带外管理的 SMBus 接口，并为每个 DUT 配备独立 UART 接口，便于系统调试与集成。

自定义 SDK 支持

提供设备 SDK，支持测试用例自定义配置，实现工程调试到量产的无缝过渡。

智能监控与数据追溯

支持良率监控、告警管理及用户权限管理，降低停线风险；全流程日志追溯能力，确保生产透明可控。

MES 系统集成

支持 MES 对接，实现任务自动下发与测试结果实时回传。

定制化 UI 开发

采用前后端分离架构，UI 界面可按需定制开发，提升操作效率与用户体验。